ザイリンクス擔當者による指示がない限り、電気的な不具合が生じたデバイスをボードから取り外さないでください。

ザイリンクスは、當社の製品やお客様の製品、および製造プロセスの品質と信頼性の向上を目指し、デバイス不具合解析サービスを提供しています。

• 電源、I/Oピンの短絡、お客様による損傷
  • EOS ガイダンスのザイリンクス ガイダンスおよびベンダー アナリシス サポートをご確認ください。
• ザイリンクス認定販売代理店以外から購入されたデバイス
  
• 購入から 1 年以上経過したデバイス
  • 詳細は、Xilinx Warranty/Terms and Conditionsを參照してください。
• エンジニアリング サンプル (ES) デバイス

• 詳しいガイドラインは、Xilinx Returns Policyを參照
  
• 該當する場合は、RMA リクエストを送信する前に、最寄のザイリンクス販売代理店またはフィールド アプリケーション エンジニア (FAE) に連絡して詳しい説明を受ける
  
• サービス ポータルへアクセスしてサービス リクエストを開く
  
  • ザイリンクスは、お客様からのケースを確認し、主な連絡先として主要擔當 CQE (Customer Quality Engineer) を割り當てます。 CQE チームが、そのケース リクエストについて分析が必要であるかを判斷します。 お客様には、不具合デバイスに関して、さらなる情報提供をお願いする場合があります。
  
  

• 必要なすべての情報 (発注書、注文書、製品の日付コードなど) は正確で正しいものでなければなりません。間違いがある場合、RMA リクエストは受理されません。
  
  
• お客様のリクエスト提出履歴と共通性のあるデータを參照して當該リクエストを確認します。 保証対象外の RMA (EOS、ESD、お客様のアプリケーションの問題、欠陥なし) 履歴があるお客様のリクエストは受理できない場合があります。
  
  
• セキュリティ機能を使用している製品の場合、解析が製限される可能性があります。FAE にご相談ください。
  
  
• 返品されるすべての製品に有効なザイリンクス RMA 番號が必要です。ザイリンクスは、承認された RMA 番號のない返品を拒否する権利を有します。このような製品は受理できません。費用はお客様のご負擔で返卻させていただきます。
  
  
• 製品の返品は、承認されてから 14 日以內に行う必要があり、期限を過ぎるとサービス リクエストはクローズとなります。
  
  
• 5 営業日以內にお客様からの回答がない場合、サービス リクエストはクローズとなります。
  
  
• 不具合の根本原因を特定するために物理的解析が必要になる場合があります。返品されたコンポーネントは、解析過程で修復不能な変更を受ける可能性があります。お客様は、解析のためにコンポーネントを提出した時點で、ザイリンクスが必要と判斷するあらゆる破壊的解析を許可するものとします。
  
  
• ザイリンクスが不具合を再現または確認できない場合は、報告された不具合を再現するために追加の情報を要求します。追加情報がない場合、または不具合を再現できない場合、ザイリンクスは、「No Evidence of Failure (不具合の証拠なし)」として RMA を返します。

• 電気的オーバーストレス (EOS) または靜電気放電 (ESD) を示す電源または I/O ピンの短絡
  
  
  • EOS/ESD の根本原因解析および緩和については、ホワイトペーパー WP433を參照してください
    
    
  • 保証対象外ではあるが、電気的な障害によって損傷したデバイスの調査を希望される場合は、ザイリンクス公認のパートナー研究所へお問い合わせください。下記のリンクをクリックすると、サービスおよび価格を確認できます。

>Eurofins EAG Lab(北米)

>Wintech Nano-Technology Services(アジア太平洋)

>Materials Analysis Technology Inc. (MA-Tech)(アジア太平洋)

>株式會社 匠エンジニアリング(日本)

Eurofins EAG Lab(北米)

EAG の不具合解析チームは、異業界のさまざまな経歴と経験を持つエンジニアで構成された専門家グループです。高品質で信頼性の高い製品開発を目指すお客様のために、最新のツール技術を使用した不具合解析サービスを提供します。1 つの窓口で包括的なエンジニアリング サービスを提供することで、全麵的にお客様をサポートします。EAG は、このような幅広いサービスを提供するリーディング カンパニーであり、世界中に研究所を配置しているため最高のアクセシビリティを提供します。EAG は ISO9001 および ISO17025 認定を取得しています。

Wenzhen Sun
WenzhenSun@eurofinsEAG.com
810 Kifer Road, Sunnyvale CA USA 94086
電話: +1 408 5303586

Wintech Nano-Technology Services(アジア太平洋)

Wintech は、世界を牽引するサードパーティ解析センターであり、不具合解析、マテリアル解析、R＆D、品質保証のワンストップ サービスを提供します。シンガポールと蘇州にある Wintech Nano の研究所では、最先端機器と 24 時間対応できる技術エンジニアによって、最も専門的かつ迅速な解析サービスを提供します。主な最先端機器には、OBIRCH、STEM、DSIMS、TOF-SIMS、XPS、AES、FIB、SEM、EDS、3D X線、PEM があります。 Wintech Nano は ISO9001 および ISO17025 認定を取得しており、半導體、電子機器、オートモーティブ、醫療機器、航空宇宙機器、太陽光システム、研究機関など、さまざまな業界のクライアントを積極的にサポートしています。

擔當者: Henry Leong
service@wintech-nano.com

Materials Analysis Technology Inc. (アジア太平洋)

MA-tek は、材料分析 (MA)、故障分析 (FA)、信頼性試験 (RT) などの包括的かつ高品質のサービスを提供する世界クラスの分析會社です。現在、世界中に 7 つの研究所と 1 つの営業所を設置しており、物流サポートと技術サービスを 24 時間體製でサポートしています。また、品質マネージメントシステム (QMS) 認証の ISO-9001、実験室認証の IECQ-17025、ISO-27001、情報セキュリティ管理認証の ISO/IEC-15408 CC EAL6 を取得しており、國際的な顧客によるオンサイト監査にも合格しています。

擔當者: Ms. Ruby Chai
sales@ma-tek.com
電話: +886-3-611-6678 ext. 3821

株式會社 匠エンジニアリング(日本)

當社は、半導體・電子部品の故障解析・信頼性試験・納品先での検品サービスを提供しております。半導體製品の品質保証業務で培った技術を活かし、初期解析で故障要素を精度良く絞り込み、非破壊解析、破壊解析、電気的解析、物理解析と故障症狀により解析手法を選定し、お客様へ期待以上の解析サービスを提供いたします。

擔當者: Kazumi Ohsawa
Ohsawa@takumi-eng.co.jp